JB/T 9495.7-1999 光学晶体学均匀性测量方法_标准下载

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JB/T 9495.7-1999 光学晶体学均匀性测量方法

JB/T 9495.7-1999

行业标准-JB 机械推荐性

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标准JB/T 9495.7-1999标准状态

发布于：1999-08-06
实施于：2000-01-01
废止

标准详情

标准名称：光学晶体学均匀性测量方法
标准号：JB/T 9495.7-1999
中国标准分类号：N00
发布日期：1999-08-06
国际标准分类号：17.180%31.030
实施日期：2000-01-01
技术归口：
代替标准：代替ZB N05001.7-1986
主管部门：国家机械工业局
标准分类：计量学和测量、物理现象机械 JB 机械

内容简介

行业标准《光学晶体光学均匀性测量方法》，主管部门为国家机械工业局。本标准适用于直径不大于200mm的光学晶体光学均匀性的测量。测量折射率微差的精度为：△η=±1×10^(-6)。

起草单位

起草人

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