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SJ 20026-1992 金属氧化物半导体气敏元件测试方法

SJ 20026-1992 金属氧化物半导体气敏元件测试方法

SJ 20026-1992

行业标准-SJ 电子强制性
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标准SJ 20026-1992标准状态

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标准详情

  • 标准名称：金属氧化物半导体气敏元件测试方法
  • 标准号：SJ 20026-1992
    中国标准分类号：L10
  • 发布日期：1992-02-01
    国际标准分类号：31-070
  • 实施日期：1992-05-01
    技术归口：中国电子技术标准化研究所
  • 代替标准：
    主管部门：中国电子工业总公司
  • 标准分类：电子学技术管理综合标准化管理与一般规定SJ 电子

内容简介

本标准规定了军用金属氧化物半导体气敏件（以下简称件或产品）参数测试方法的基本原理没有规定这些方法在实际使用时的技术细节测试时可按相应的详细规范的规定进行。本标准适用于军用金属氧化物半导体气敏件气电参数的测试其它气件亦可参照使用。

起草单位

国营四三二二厂

起草人

孟长年、孟繁英

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