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SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法

SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法

SJ 20147.1-1992

行业标准-SJ 电子强制性
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标准SJ 20147.1-1992标准状态

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标准详情

  • 标准名称：银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法
  • 标准号：SJ 20147.1-1992
    中国标准分类号：A20
  • 发布日期：1992-11-19
    国际标准分类号：25.220
  • 实施日期：1993-05-01
    技术归口：中国电子技术标准化研究所
  • 代替标准：被SJ 20147.1A-2018代替
    主管部门：中国电子工业总公司
  • 标准分类：机械制造技术管理卫生劳动保护医药劳动保护综合SJ 电子

内容简介

本标准规定了用x射线荧光光谱法测量银和银合金镀覆层厚度的方法。它是’一种非接触式的无损测量方法。本标准适用于银和银合金镀覆层厚度的测量，也适用于常用金属镀覆层厚度的测量。该方法还可同时测量出表面镀覆层和中间层的厚度。

起草单位

中国华晶电子集团公司等单位

起草人

全庆霄、赵长春、顺兴生等

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