SJ 20309-1993 半导体分立器件3DK10型功率开关晶体管详细规范
SJ 20309-1993
行业标准-SJ 电子强制性收藏报错
标准SJ 20309-1993标准状态
- 发布于：1993-05-11
- 实施于：1993-07-01
- 废止
内容简介
本规范规定了3DK1OC~D、3DK10G~H型NPN硅功率达林顿晶体管的详细要求。每种器件均按GJB33《半导体分立器件总规范》的规定，提供产品保证的三个等级（GP、GT和GCT级）。
起草单位
机械电子工业部电子工业部标准研究所
起草人
蔡仁明、杨健
相近标准
SJ20311-1993ＣＣＫ４１０４型有可靠性指标的非密封多层片状瓷介固定电容器详细规范
SJ20312-1993ＣＴＫ４１０２型有可靠性指标的非密封多层片状瓷介固定电容器详细规范
SJ20313-1993ＣＴＫ４１０３型有可靠性指标的非密封多层片状瓷介固定电容器详细规范
SJ20314-1993ＣＴＫ４１０４型有可靠性指标的非密封多层片状瓷介固定电容器详细规范
SJ20315-1993ＣＴＫ８１１０型有可靠性指标的瓷介固定电容器详细规范
SJ20316-1993ＣＴＫ８１１６型有可靠性指标的瓷介固定电容器详细规范
SJ20318-1993ＣＣＫ４１０３型有可靠性指标的非密封多层片状瓷介固定电容器详细规范
SJ2070-1982ＣＹ４０１型印制电路插座
SJ2089-1982电子测量仪器型号命名方法
SJ2259-1982电子测量仪器随机技术文件的编制
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们，感谢！
③ 本站资源均来源于互联网，仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
下载说明
「相关推荐」
- 1 SJ 20313-1993 CTK4103型有可靠性指标的非密封多层片状瓷介固定电容
- 2 SJ 20312-1993 CTK4102型有可靠性指标的非密封多层片状瓷介固定电容
- 3 SJ 20311-1993 CCK4104型有可靠性指标的非密封多层片状瓷介固定电容
- 4 SJ 20295-1993 半导体集成电路JT4344型鉴频/鉴相器详细规范
- 5 SJ 20294-1993 半导体集成电路JW1524（1525、1525A、1526、1527、1527A）型
- 6 SJ 20298-1993 半导体集成电路JB555、JB556型时基电路详细规范
- 7 SJ 20297-1993 半导体集成电路JW117、JW117M、JW117L型三端可调正输出稳
- 8 SJ 20296-1993 半导体集成电路JF2500和JF2520型高转换速率运算放大器
- 9 SJ 20300-1993 半导体集成电路JF155（156、157、155A、156A、157A）型JF
- 10 SJ 20299-1993 半导体集成电路JF147型JFET输入运算放大器详细规范
- 11 SJ 20303-1993 半导体集成电路JWOP07（07A、27A、37A）、JF714型低失调运
- 12 SJ 20302-1993 半导体集成电路JW1930-12、JW1930-15、JW1932-5型三端低压差