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SJ/T 10167-1991 电子设备密封结构试验方法

SJ/T 10167-1991 电子设备密封结构试验方法

SJ/T 10167-1991

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  • 标准名称：电子设备密封结构试验方法
  • 标准号：SJ/T 10167-1991
    中国标准分类号：L94
  • 发布日期：1991-04-02
    国际标准分类号：31.240
  • 实施日期：1991-07-01
    技术归口：
  • 代替标准：
    主管部门：电子工业部
  • 标准分类：电子学SJ 电子

内容简介

行业标准《电子设备密封结构试验方法》，主管部门为电子工业部。本标准规定了电子设备密封结构壳体的密封试验方法。本标准适用于密封壳体的水密封、尘密封、气密封试验。

起草单位

国营第786厂、机械电子工业部电子标准化研究所

起草人

师华钦 仇金陵 孙树菊 张继瑞 冯长友

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