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SJ/T 10739-1996 半导体集成电路 MOS随机存储器测试方法的基本原理

SJ/T 10739-1996 半导体集成电路 MOS随机存储器测试方法的基本原理

SJ/T 10739-1996

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  • 标准名称：半导体集成电路 MOS随机存储器测试方法的基本原理
  • 标准号：SJ/T 10739-1996
    中国标准分类号：L55
  • 发布日期：2010-02-25
    国际标准分类号：31.200
  • 实施日期：1997-01-01
    技术归口：
  • 代替标准：代替GB 3443-1982
    主管部门：
  • 标准分类：电子学技术管理化工SJ 电子化工综合

内容简介

起草单位

起草人

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