GB/T 43087-2023 微束分析分析电子显微术层状材料截面像中界面位置的确定方法_标准下载

GB/T 43087-2023 微束分析分析电子显微术层状材料截面像中界面位置的确定方法

Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials

GB/T 43087-2023

国家标准推荐性

收藏报错

标准GB/T 43087-2023标准状态

发布于：2023-09-07
实施于：2024-04-01
废止

标准详情

标准名称：微束分析分析电子显微术层状材料截面像中界面位置的确定方法
标准号：GB/T 43087-2023
中国标准分类号：N33
发布日期：2023-09-07
国际标准分类号：71.040.50
实施日期：2024-04-01
技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：国家标准化管理委员会
标准分类：化工技术分析化学物理化学分析方法

内容简介

国家标准《微束分析分析电子显微术层状材料截面像中界面位置的确定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。本文件适用于透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。本文件不适用于测定多层模拟法（MSS）获得的界而位置。

起草单位

北京科技大学、

起草人

权茂华、柳得橹、

相近标准

20220470-T-469 微束分析分析电子显微术金属中纳米颗粒数密度的测定方法
20231333-T-469 微束分析分析电子显微术电子能量损失谱能量分辨率的测定方法
20233283-T-469 微束分析钢铁材料缺陷电子束显微分析方法通则
20231337-T-469 微束分析扫描电子显微术 CD-SEM评定关键尺寸的方法
GB/T 43088-2023 微束分析分析电子显微术金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
20231342-T-469 微束分析透射电子显微术聚合物复合材料超薄切片制备方法
GB/T 18907-2013 微束分析分析电子显微术透射电镜选区电子衍射分析方法
GB/T 43610-2023 微束分析分析电子显微术线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法
20214160-T-469 微束分析透射电子显微术集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法
20214158-T-469 微束分析电子探针显微分析无水碳酸盐矿物的定量分析方法

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

标准网本地下载