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GB/T 20175-2006 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法

GB/T 20175-2006 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法

Surface chemical analysis-Sputter depth profiling-Optimization using layered systems as reference materials

GB/T 20175-2006

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  • 标准名称:表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
  • 标准号:GB/T 20175-2006
    中国标准分类号:N33
  • 发布日期:2006-03-27
    国际标准分类号:71.040.40
  • 实施日期:2006-11-01
    技术归口:全国微束分析标准化技术委员会
  • 代替标准:
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:化工技术分析化学化学分析

内容简介

国家标准《表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,TC38SC2(全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
为使俄歇电子能谱、X射线光电子能谱和二次离子质谱的仪器设定达到深度分辨的优化目的,本标准采用适当的单层和多层膜系参考物质,提供优化溅射深度剖析参数的指南。特殊多层膜系的使用不包括在本标准内。

起草单位

清华大学电子工程系、

起草人

查良镇、 陈旭、 黄天斌、 刘林、 王光普、黄雁华、

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