GB/T 23414-2009 微束分析扫描电子显微术术语_标准下载

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GB/T 23414-2009 微束分析扫描电子显微术术语

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary

GB/T 23414-2009

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标准GB/T 23414-2009标准状态

发布于：2009-04-01
实施于：2009-12-01
废止

标准详情

标准名称：微束分析扫描电子显微术术语
标准号：GB/T 23414-2009
中国标准分类号：N33
发布日期：2009-04-01
国际标准分类号：37.020;01.040.37
实施日期：2009-12-01
技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：国家标准化管理委员会
标准分类：综合、术语学、标准化、文献词汇成像技术成像技术（词汇）光学设备

内容简介

国家标准《微束分析扫描电子显微术术语》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准定义了扫描电子显微术(SEM)实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语，也包括已经在ISO 23833中定义的术语。本标准适用于所有有关SEM实践的标准化文件。另外，本标准的某些术语定义，也适用于相关领域的文件〔例如：电子探针显微分析(EPMA)、分析电子显微术(AEM)、能谱法(EDX)等〕。

起草单位

中国科学院上海硅酸盐研究所、

起草人

李香庭、曾毅、

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