GB/T 22586-2018 电子学特性测量超导体在微波频率下的表面电阻_标准下载

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GB/T 22586-2018 电子学特性测量超导体在微波频率下的表面电阻

Electronic characteristic measurements—Surface resistance of superconductors at microwave frequencies

GB/T 22586-2018

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标准GB/T 22586-2018标准状态

发布于：2018-03-15
实施于：2018-10-01
废止

标准详情

标准名称：电子学特性测量超导体在微波频率下的表面电阻
标准号：GB/T 22586-2018
中国标准分类号：H21
发布日期：2018-03-15
国际标准分类号：77.040.99
实施日期：2018-10-01
技术归口：全国超导标准化技术委员会
代替标准：代替GB/T 22586-2008
主管部门：中国科学院
标准分类：冶金金属材料试验金属材料的其他试验方法

内容简介

国家标准《电子学特性测量超导体在微波频率下的表面电阻》由TC265（全国超导标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。
本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法，测试目标是在谐振频率下RS随温度的变化。改进型镜像介质谐振器法，作为另外一种可选用的方法，在附录B中给出。本标准适用于表面电阻的测试范围如下：——频率：8GHz＜f＜30GHz——测试分辨率：0.01mΩ(f=10GHz)。测试报告给出在测试频率下的表面电阻值，并且给出利用Rs∝f2的关系折合到10GHz的值。

起草单位

电子科技大学、南京大学、清华大学、中国科学院物理研究所、

起草人

曾成、罗正祥、吉争鸣、孙亮、补世荣、魏斌、

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