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SJ/T 11777-2021 半导体管特性图示仪校准仪技术要求和测量方法

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SJ/T 11777-2021

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  • 标准名称：半导体管特性图示仪校准仪技术要求和测量方法
  • 标准号：SJ/T 11777-2021
    中国标准分类号：L85
  • 发布日期：2021-03-05
    国际标准分类号：17.22
  • 实施日期：2021-06-01
    技术归口：中国电子技术标准化研究院
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部
  • 标准分类：计量学和测量、物理现象SJ 电子

内容简介

行业标准《半导体管特性图示仪校准仪技术要求和测量方法》由全国电子测量仪器标准化技术委员会归口上报，主管部门为工业和信息化部。本标准规定了半导体管特性图示仪校准仪(以下简称“校准仪”)的术语和定义、技术要求和测量方法。本标准适用于直流电压源输出范围不超过0.01V~5000V，直流电流源输出范围不超过10nA~10A，取样电阻标称范围不超过0.005Ω~10MΩ，阶梯电压归一化变换范围不超过0.1V~20V，阶梯电流归一化变换范围不超过10μA~20A，阶梯电压表测量范围不超过0.01V/阶~10V/阶，阶梯电流表测量范围不超过0.1μA/阶~10A/阶，脉冲电流表测量范围不超过10A~1000A的校准仪。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、深圳市施罗德工业集团有限公司

起草人

李洁、刘冲、张珊

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