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GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法

GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法

Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays

GB/T 17444-2013

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标准GB/T 17444-2013标准状态

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标准详情

  • 标准名称：红外焦平面阵列参数测试方法
  • 标准号：GB/T 17444-2013
    中国标准分类号：L52
  • 发布日期：2013-11-12
    国际标准分类号：31.260
  • 实施日期：2014-04-15
    技术归口：工业和信息化部（电子）
  • 代替标准：代替GB/T 17444-1998
    主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 标准分类：电子学光电子学、激光设备

内容简介

国家标准《红外焦平面阵列参数测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。

起草单位

中国科学院上海技术物理研究所、

起草人

丁瑞军、 梁平治、 曹妩媚、 殷建军、 唐红兰、陈洪雷、

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