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GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction

GB/T 20724-2021

国家标准推荐性现行

标准GB/T 20724-2021标准状态

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标准详情

  • 标准名称:微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
  • 标准号:GB/T 20724-2021
    中国标准分类号:N53
  • 发布日期:2021-12-31
    国际标准分类号:71.040.99
  • 实施日期:2022-07-01
    技术归口:全国微束分析标准化技术委员会
  • 代替标准:代替GB/T 20724-2006
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:化工技术分析化学有关分析化学的其他标准

内容简介

国家标准《微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准化管理委员会。
本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。

起草单位

北京科技大学、中国航发北京航空材料研究院、

起草人

柳得橹、 娄艳芝、

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