GB/T 20724-2021 微束分析薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法_标准下载

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GB/T 20724-2021 微束分析薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction

GB/T 20724-2021

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标准GB/T 20724-2021标准状态

发布于：2021-12-31
实施于：2022-07-01
废止

标准详情

标准名称：微束分析薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
标准号：GB/T 20724-2021
中国标准分类号：N53
发布日期：2021-12-31
国际标准分类号：71.040.99
实施日期：2022-07-01
技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
代替标准：代替GB/T 20724-2006
主管部门：国家标准化管理委员会
标准分类：化工技术分析化学有关分析化学的其他标准

内容简介

国家标准《微束分析薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。

起草单位

北京科技大学、中国航发北京航空材料研究院、

起草人

柳得橹、娄艳芝、

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