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GB/T 41033-2021 CMOS集成电路抗辐射加固设计要求

GB/T 41033-2021 CMOS集成电路抗辐射加固设计要求

Design requirements of radiation hardening for CMOS IC

GB/T 41033-2021

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标准GB/T 41033-2021标准状态

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  • 标准名称：CMOS集成电路抗辐射加固设计要求
  • 标准号：GB/T 41033-2021
    中国标准分类号：V29
  • 发布日期：2021-12-31
    国际标准分类号：49.035
  • 实施日期：2022-07-01
    技术归口：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会
  • 代替标准：
    主管部门：国家标准化管理委员会
  • 标准分类：航空器和航天器工程航空航天制造用零部件

内容简介

国家标准《CMOS集成电路抗辐射加固设计要求》由TC425（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本文件规定了CMOS集成电路抗辐射（总剂量、单粒子）加固设计的流程、设计要求、建模仿真、验证试验要求。本文件适用于基于体硅/SOI CMOS工艺的数字集成电路、模拟集成电路和数模混合集成电路的抗辐射（总剂量、单粒子）加固设计。

起草单位

中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所、

起草人

刘智、 葛梅、 岳红菊、 于洪波、 耿增建、 胡巧玉、 谢成民、王斌、姚思远、李海松、

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