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GB/T 8756-1988 锗晶体缺陷图谱

GB/T 8756-1988 锗晶体缺陷图谱

Collection of metallographs on defects of crystallinegermanium

GB/T 8756-1988

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标准GB/T 8756-1988标准状态

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  • 标准名称：锗晶体缺陷图谱
  • 标准号：GB/T 8756-1988
    中国标准分类号：H24
  • 发布日期：1988-02-25
    国际标准分类号：77.040.30
  • 实施日期：1989-02-01
    技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 代替标准：被GB/T 8756-2018代替
    主管部门：国家标准化管理委员会
  • 标准分类：冶金金属材料试验金属材料化学分析

内容简介

国家标准《锗晶体缺陷图谱》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了锗多晶、锗单晶制备和机械加工工艺过程中所产生的各类缺陷的形貌。 本标准适用于锗多晶、锗单晶、锗研磨片和抛光镜片的生产和研究。锗二极管、晶体管和红外窗口的制造亦可参照使用。

起草单位

北京有色金属研究总院、

起草人

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