GB/T 11250.2-1989 复合金属覆层厚度的测定 X荧光法
GB/T 11250.2-1989
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标准GB/T 11250.2-1989标准状态
- 发布于:1989-03-31
- 实施于:1990-01-01
- 废止
内容简介
本标准规定了X荧光法测定复合材料覆层厚度的方法、使用的仪器、测量步骤、标准样品的制作以及测量曲线的绘制。 本标准适用于X荧光法对复合带材覆层厚度的测定。方法精密度为±5%。
起草单位
机电部745厂
起草人
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