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GB/T 14619-1993 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

GB/T 14619-1993 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

Alumina ceramic substrates for thick filmintegrated circuits

GB/T 14619-1993

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  • 标准名称：厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
  • 标准号：GB/T 14619-1993
    中国标准分类号：L32
  • 发布日期：1993-09-03
    国际标准分类号：31.200
  • 实施日期：1993-12-01
    技术归口：工业和信息化部（电子）
  • 代替标准：被GB/T 14619-2013代替
    主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片，片状元件用氧化铝陶瓷基片亦可参照使用。（以下简称基片）。

起草单位

国营七九九厂、

起草人

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