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GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定

GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of solids content

GB/T 17473.1-1998

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标准GB/T 17473.1-1998标准状态

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  • 标准名称：厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
  • 标准号：GB/T 17473.1-1998
    中国标准分类号：H15
  • 发布日期：1998-08-19
    国际标准分类号：77.040.01
  • 实施日期：1999-03-01
    技术归口：全国有色金属标准化技术委员会
  • 代替标准：被GB/T 17473.1-2008代替
    主管部门：中国有色金属工业协会
  • 标准分类：冶金金属材料试验金属材料试验综合

内容简介

本标准规定了贵金属浆料中固体含量的测试方法。 本标准适用于各种贵金属浆料中固体含量的测定。非贵金属浆料中固体含量的测定亦可参照使用。
国家标准《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定》由TC243（全国有色金属标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国有色金属工业协会。

起草单位

昆明贵金属研究所、

起草人

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