GB/T 17473.7-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法可焊性、耐焊性试验_标准下载

GB/T 17473.7-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法可焊性、耐焊性试验

Test methods of precious metal pastes used for thick-film microelectronics--Test of solderability and solderleaching resistance

GB/T 17473.7-1998

国家标准推荐性

收藏报错

标准GB/T 17473.7-1998标准状态

发布于：1998-08-19
实施于：1999-03-01
废止

标准详情

标准名称：厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法可焊性、耐焊性试验
标准号：GB/T 17473.7-1998
中国标准分类号：H23
发布日期：1998-08-19
国际标准分类号：77.040.01
实施日期：1999-03-01
技术归口：全国有色金属标准化技术委员会
代替标准：被GB/T 17473.7-2008代替
主管部门：中国有色金属工业协会
标准分类：冶金金属材料试验金属材料试验综合

内容简介

本标准规定了贵金属可锡焊浆料的可焊性、耐焊性试验方法。本标准适用于贵金属可锡焊浆料的可焊料、耐焊性测试。非贵金属可锡浆料亦可参照使用。

起草单位

昆明贵金属研究所

起草人

相近标准

GB/T 17473.5-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定
GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定
GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定
微电子技术用贵金属浆料测试方法可焊性、耐焊性测定
20064723-T-610 微电子技术用贵金属浆料测试方法可焊性、耐焊性测定
GB/T 17473.7-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法可焊性、耐焊性测定
GB/T 17473.4-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法附着力测定
GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定
GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测定
20062656-T-610 微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

点击下载

标准质量：

下载说明

① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们，感谢！
③ 本站资源均来源于互联网，仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。

在线纠错

标准过期下载问题模糊有误其它问题