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GB/T 17723-1999 黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法

GB/T 17723-1999 黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法

Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX

GB/T 17723-1999

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标准GB/T 17723-1999标准状态

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  • 标准名称：黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法
  • 标准号：GB/T 17723-1999
    中国标准分类号：N33
  • 发布日期：1999-04-11
    国际标准分类号：37.020
  • 实施日期：1999-12-01
    技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
  • 代替标准：被GB/T 17362-2008代替
    主管部门：国家标准化管理委员会
  • 标准分类：成像技术光学设备

内容简介

本标准规定了应用扫描电镜X射线能谱仪（包括装有X射线能谱仪的电子探针仪）对镀金制品表面金及金合金单层均匀镀层成分的非破坏性分析测量方法。 本标准适用于表面镀金及金合金，其镀层厚度为0.2μm以上，3μm以下范围内的成分测量（不包括基体和金镀层材料相近的镀层成分的测量）。

起草单位

北京有色金属研究总院

起草人

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