当前位置:标准网 国家标准

GB/T 8750-2007 半导体器件键合用金丝

GB/T 8750-2007 半导体器件键合用金丝

Gold bonding wire for semiconductor devices

GB/T 8750-2007

国家标准推荐性
收藏 报错

标准GB/T 8750-2007标准状态

  1. 发布于:
  2. 实施于:
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称:半导体器件键合用金丝
  • 标准号:GB/T 8750-2007
    中国标准分类号:H68
  • 发布日期:2007-11-23
    国际标准分类号:77.150.99
  • 实施日期:2008-06-01
    技术归口:全国有色金属标准化技术委员会
  • 代替标准:被GB/T 8750-2014代替
    主管部门:中国有色金属工业协会
  • 标准分类:冶金有色金属产品其他有色金属产品

内容简介

国家标准《半导体器件键合用金丝》由TC243(全国有色金属标准化技术委员会)归口,主管部门为中国有色金属工业协会。
本标准规定了半导体器件键合金丝的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输和贮存等。本标准适用于半导体器件内引线用的拉伸或挤压金丝。

起草单位

贺利氏招远贵金属材料有限公司、成都印钞公司长城金印精炼厂、贺利氏招远(常熟)电子材料有限公司、北京达博有色金属焊料有限责任公司、

起草人

王桂华、

相近标准

YS/T 641-2007 半导体器件键合用铝丝
YS/T 678-2008 半导体器件键合用铜丝
GB/T 34502-2017 封装键合用镀金银及银合金丝
YS/T 543-2015 半导体键合用铝-1%硅细丝
GB/T 34507-2017 封装键合用镀钯铜丝
SJ/T 10705-1996 半导体器件键合丝表面质量检验方法
GB/T 41853-2022 半导体器件 微机电器件 晶圆间键合强度测量
GB/T 4937.22-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分:键合强度
20220962-T-604 非晶软磁合金丝材
GB/T 26015-2010 覆合用铜带

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

  • 标准质量:
  • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
    ③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。