GB/T 4059-1983 硅多晶气氛区熔磷检验方法
GB/T 4059-1983
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标准GB/T 4059-1983标准状态
- 发布于:1983-12-20
- 实施于:1984-12-01
- 废止
内容简介
本标准适用于三氯氢硅及四氯化硅氢还原在细硅芯上沉积硅多晶所生长出来的硅多晶棒。检测杂质浓度有效范围0.02~20ppba。 N型电阻率范围10~2000Ω·Cm。
起草单位
峨嵋半导体材料厂
起草人
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