GB/T 35306-2023 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
GB/T 35306-2023
国家标准推荐性标准GB/T 35306-2023标准状态
- 发布于:2023-08-06
- 实施于:2024-03-01
- 废止
内容简介
国家标准《硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
本文件描述了采用低温傅立叶变换红外光谱法测定硅单晶中代位碳、间隙氧含量的方法。本文件适用于室温电阻率大于1Ω·cm的n型硅单晶和室温电阻率大于3Ω·cm的p型硅单晶中代位碳、间隙氧含量的测定,测定范围(以原子数计)为2.5×1014cm-31.5×1017cm-3。
起草单位
青海芯测科技有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、洛阳中硅高科技有限公司、亚洲硅业(青海)股份有限公司、陕西有色天宏瑞科硅材料有限责任公司、弘元新材料(包头)有限公司、隆基绿能科技股份有限公司、青海黄河上游水电开发有限责任公司新能源分公司、布鲁克(北京)科技有限公司、宜昌南玻硅材料有限公司、新疆新特新能材料检测中心有限公司、高景太阳能股份有限公司、
起草人
薛心禄、 秦榕、 邓浩、 岳玉芳、 张园园、 赵跃、 陈卫国、 路盛刚、 邱艳梅、 李向宇、 汪奇、 李素青、杨晓青、李明珍、赵雄、雷浩东、蔡延国、徐岩、张遵、杨阳、徐志群、
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