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GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit

GB/T 43226-2023

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标准GB/T 43226-2023标准状态

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  • 标准名称：宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
  • 标准号：GB/T 43226-2023
    中国标准分类号：V25
  • 发布日期：2023-09-07
    国际标准分类号：49.140
  • 实施日期：2024-01-01
    技术归口：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会
  • 代替标准：
    主管部门：国家标准化管理委员会
  • 标准分类：航空器和航天器工程航天系统和操作装置

内容简介

国家标准《宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法》由TC425（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会）归口，TC425SC2（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。

起草单位

北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院、

起草人

赵元富、 陈雷、 郑宏超、 李哲、 陈淼、 王汉宁、 王亮、岳素格、林建京、李永峰、

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