GB/T 17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定_标准下载

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GB/T 17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定

Test methods of precious metals pastes used for microelectronics Determination of sheet resistance

GB/T 17473.3-2008

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标准GB/T 17473.3-2008标准状态

发布于：2008-03-31
实施于：2008-09-01
废止

标准详情

标准名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定
标准号：GB/T 17473.3-2008
中国标准分类号：H68
发布日期：2008-03-31
国际标准分类号：77.120.99
实施日期：2008-09-01
技术归口：全国有色金属标准化技术委员会
代替标准：代替GB/T 17473.3-1998
主管部门：中国有色金属工业协会
标准分类：冶金有色金属其他有色金属及其合金

内容简介

国家标准《微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定》由TC243（全国有色金属标准化技术委员会）归口，TC243SC5（全国有色金属标准化技术委员会贵金属分会）执行，主管部门为中国有色金属工业协会。
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料方阻的测试方法。本部分适用于微电子技术用贵金属浆料方阻的测定。

起草单位

贵研铂业股份有限公司、

起草人

金勿毁、刘继松、李文琳、

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