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GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法

GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法

Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell

GB/T 30869-2014

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标准GB/T 30869-2014标准状态

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  • 标准名称：太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
  • 标准号：GB/T 30869-2014
    中国标准分类号：H21
  • 发布日期：2014-07-24
    国际标准分类号：77.040
  • 实施日期：2015-02-01
    技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 代替标准：
    主管部门：国家标准化管理委员会
  • 标准分类：冶金金属材料试验

内容简介

国家标准《太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了太阳能电池用硅片（以下简称硅片）厚度及总厚度变化的分立式和扫描式测量方法。本标准适用于符合GB／T 26071、GB／T 29055规定尺寸的硅片的厚度及总厚度变化的测量，分立式测量方法适用于接触式及非接触式测量，扫描式测量方法只适用于非接触式测量。在测量仪器准许的情况下，本标准也可用于其他规格硅片的厚度及总厚度变化的测量。

起草单位

东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司、乐山新天源太阳能科技有限公司、有研半导体材料股份有限公司、青洋电子材料有限公司、

起草人

何紫军、 冯地直、 陈琳、 荆旭华、 程宇、黎阳、刘卓、

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