当前位置：标准网 国家标准

GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction

GB/T 20724-2006

国家标准推荐性
收藏 报错

标准GB/T 20724-2006标准状态

  1. 发布于：
  2. 实施于：
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称：薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
  • 标准号：GB/T 20724-2006
    中国标准分类号：N53
  • 发布日期：2006-12-25
    国际标准分类号：71.040.99
  • 实施日期：2007-08-01
    技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
  • 代替标准：被GB/T 20724-2021代替
    主管部门：国家标准化管理委员会
  • 标准分类：化工技术分析化学有关分析化学的其他标准

内容简介

国家标准《薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10m～×10m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。

起草单位

北京科技大学、

起草人

柳得橹、

相近标准

GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
GB/T 43088-2023 微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法
20214160-T-469 微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法
20232638-T-469 微束分析 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
GB/T 43610-2023 微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法
WS/T 117-1999 X、γ、β射线和电子束所致晶体剂量估算规范
GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法
GB/T 5753-2013 钢丝绳芯输送带 总厚度和覆盖层厚度的测定方法
QB/T 1133-1991 首饰金覆盖层厚度的测定方法化学法
QB/T 1134-1991 首饰银覆盖层厚度的测定方法化学法

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

标准网本地下载
  • 标准质量：

    • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们，感谢！
    ③ 本站资源均来源于互联网，仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
  • 在线纠错
    • 标准过期 下载问题 模糊有误 其它问题

    「相关推荐」