GB/Z 21738-2008 一维纳米材料的基本结构高分辨透射电子显微镜检测方法_标准下载

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GB/Z 21738-2008 一维纳米材料的基本结构高分辨透射电子显微镜检测方法

Fundamental structures of one dimensional nanomaterials - High resolution electron microscopy characterization

GB/Z 21738-2008

国家标准指导性技术文件

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标准GB/Z 21738-2008标准状态

发布于：2008-05-08
实施于：2008-11-01
废止

标准详情

标准名称：一维纳米材料的基本结构高分辨透射电子显微镜检测方法
标准号：GB/Z 21738-2008
中国标准分类号：N30
发布日期：2008-05-08
国际标准分类号：17.180.01
实施日期：2008-11-01
技术归口：全国纳米技术标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：中国科学院
标准分类：计量学和测量、物理现象光学和光学测量光学和光学测量综合

内容简介

国家标准《一维纳米材料的基本结构高分辨透射电子显微镜检测方法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，TC279SC1（全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分会）执行，主管部门为中国科学院。
本指导性技术文件规定了采用高分辨透射电子显微镜检测纳米材料中一维或准一维纳米材料的原理，术语和定义，仪器和设备，样品制备，测量程序，结果表示以及试验报告等。本指导性技术文件适用于测量一维或准一维纳米材料的基本结构，元素组分，截面及界面原子排布等。

起草单位

中国科学院物理研究所、

起草人

李建奇、

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