当前位置:标准网 国家标准

GB/T 23886-2009 珍珠珠层厚度测定方法 光学相干层析法

GB/T 23886-2009 珍珠珠层厚度测定方法 光学相干层析法

Determination of nacre thickness - Optical coherence tomography

GB/T 23886-2009

国家标准推荐性
收藏 报错

标准GB/T 23886-2009标准状态

  1. 发布于:
  2. 实施于:
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称:珍珠珠层厚度测定方法 光学相干层析法
  • 标准号:GB/T 23886-2009
    中国标准分类号:D59
  • 发布日期:2009-06-01
    国际标准分类号:39.060
  • 实施日期:2010-01-01
    技术归口:全国珠宝玉石标准化技术委员会
  • 代替标准:
    主管部门:自然资源部(国土)
  • 标准分类:精密机械、珠宝珠宝

内容简介

国家标准《珍珠珠层厚度测定方法 光学相干层析法》由TC298(全国珠宝玉石标准化技术委员会)归口,主管部门为自然资源部(国土)。
本标准规定了使用光学相干层析技术无损测量珍珠珠层厚度的方法。本标准适用于珍珠珠层厚度的测定。

起草单位

国家珠宝玉石质量监督检验中心、深圳市莫廷影像技术有限公司、清华大学、

起草人

张蓓莉、 柯捷、 沈美冬、魏然、

相近标准

DB44/T 653-2009 南珠珍珠层厚度的测定方法
GB/T 33051-2016 光学功能薄膜 表面硬化薄膜 硬化层厚度测定方法
DB44/T 396-2012 海水珍珠层粉
DB44/T 396-2006 冻水珍珠层粉
20172610-T-607 眼科仪器 眼后节光学相干断层扫描仪
20220059-T-491 光电系统中光学中心间距的测定 低相干干涉测量法
20214160-T-469 微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法
YY/T 1895-2023 血管内光学相干断层扫描成像设备
YS/T 23-2016 硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法
YS/T 23-1992 硅外延层厚度测定堆垛层错尺寸法

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

  • 标准质量:
  • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
    ③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。