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GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法

GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法

Test methods for conductivity type of extrinsic semiconducting materials

GB/T 1550-2018

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标准GB/T 1550-2018标准状态

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标准详情

  • 标准名称：非本征半导体材料导电类型测试方法
  • 标准号：GB/T 1550-2018
    中国标准分类号：H21
  • 发布日期：2018-12-28
    国际标准分类号：77.040
  • 实施日期：2019-11-01
    技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 代替标准：代替GB/T 1550-1997
    主管部门：国家标准化管理委员会
  • 标准分类：冶金金属材料试验

内容简介

国家标准《非本征半导体材料导电类型测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。本标准适用于硅、锗非本征半导体材料导电类型的测试，其他非本征半导体材料可参照本标准测试。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得可靠结果；对于导电类型不均匀的材料，可在其表面上测出不同导电类型区域。本标准不适用于分层结构材料（如外延片）导电类型的测试。

起草单位

乐山市产品质量监督检验所、广州市昆德科技有限公司、浙江海纳半导体有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、云南冶金云芯硅材股份有限公司、北京合能阳光新能源技术有限公司、中国计量科学研究院、瑟米莱伯贸易（上海）有限公司、新特能源股份有限公司、峨嵋半导体材料研究所、中锗科技有限公司、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、

起草人

梁洪、 王莹、 王昕、 王飞尧、 邱艳梅、 刘晓霞、 刘新军、 徐远志、 肖宗杰、 赵晓斌、高英、黄黎、徐红骞、杨旭、张园园、程小娟、潘金平、

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