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GB/T 8756-2018 锗晶体缺陷图谱

GB/T 8756-2018 锗晶体缺陷图谱

Collection of metallographs on defects of germanium crystal

GB/T 8756-2018

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标准GB/T 8756-2018标准状态

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  • 标准名称：锗晶体缺陷图谱
  • 标准号：GB/T 8756-2018
    中国标准分类号：H80
  • 发布日期：2018-12-28
    国际标准分类号：29.045
  • 实施日期：2019-07-01
    技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会,全国有色金属标准化技术委员会
  • 代替标准：代替GB/T 8756-1988
    主管部门：国家标准化管理委员会
  • 标准分类：电气工程半导体材料

内容简介

国家标准《锗晶体缺陷图谱》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）、全国有色金属标准化技术委员会联合归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了锗多晶、锗单晶制备和机械加工过程中产生的缺陷，给出了各类缺陷的特征、产生原因及消除方法。本标准适用于区熔锗锭、锗单品、锗研磨片和锗抛光片生产过程中产生的缺陷。

起草单位

云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、云南中科鑫圆晶体材料有限公司、广东先导稀材股份有限公司、有色金属技术经济研究院、有研光电新材料有限责任公司、中锗科技有限公司、云南东昌金属加工有限公司、

起草人

普世坤、 惠峰、 柯尊斌、 尹士平、 董汝昆、冯德伸、朱刘、李素青、

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