GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理_标准下载

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GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits

GB/T 14031-1992

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标准GB/T 14031-1992标准状态

发布于：1992-12-17
实施于：1993-08-01
废止

标准详情

标准名称：半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
标准号：GB/T 14031-1992
中国标准分类号：L55
发布日期：1992-12-17
国际标准分类号：31.200
实施日期：1993-08-01
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环（以下简称器件或模拟锁相环）电参数测试方法的基本原理。

起草单位

上海元件五厂、

起草人

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