当前位置：标准网 国家标准

GB/T 12300-1990 功率晶体管安全工作区测试方法

GB/T 12300-1990 功率晶体管安全工作区测试方法

Test methods of safe operating area for power transistors

GB/T 12300-1990

国家标准推荐性
收藏 报错

标准GB/T 12300-1990标准状态

  1. 发布于：
  2. 实施于：
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称：功率晶体管安全工作区测试方法
  • 标准号：GB/T 12300-1990
    中国标准分类号：L40
  • 发布日期：1990-03-15
    国际标准分类号：31.080.30
  • 实施日期：1990-08-01
    技术归口：全国电力电子系统和设备标准化技术委员会
  • 代替标准：
    主管部门：中国电器工业协会
  • 标准分类：电子学半导体分立器件三极管

内容简介

国家标准《功率晶体管安全工作区测试方法》由TC60（全国电力电子系统和设备标准化技术委员会）归口，TC60SC6（全国电力电子系统和设备标准化技术委员会电力电子器件分会）执行，主管部门为中国电器工业协会。
本标准规定了功率晶体管的直流、脉冲和安全工作区测试方法及安全工作区的确定方法。本标准是对国家标准GB4587《双极型晶体管测试方法》的补充。 本标准适用于功率晶体管安全工作区的测试。

起草单位

北京无线电仪器厂、

起草人

相近标准

20233716-T-339 半导体器件 分立器件 小功率双极型晶体管空白详细规范
20233689-T-339 半导体器件 分立器件 大功率双极型晶体管空白详细规范
SJ/T 1480-2016 半导体分立器件 3CG130型硅ＰＮＰ高频小功率晶体管详细规范
SJ/T 1477-2016 半导体分立器件 3CG120型硅ＰＮＰ高频小功率晶体管详细规范
SJ/T 1472-2016 半导体分立器件 3CG110型硅ＰＮＰ高频小功率晶体管详细规范
SJ/T 10333-1993 单结晶体管测试方法
SJ/T 11225-2000 电子元器件详细规范 3DA504型S波段硅脉冲功率晶体管
SJ/T 11226-2000 电子元器件详细规范 3DA505型L波段硅脉冲功率晶体管
SJ/T 11227-2000 电子元器件详细规范 3DA98型NPN硅高频大功率晶体管
SJ/T 1830-2016 半导体分立器件 3DK101型ＮＰＮ硅小功率开关晶体管详细规范

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

标准网本地下载
  • 标准质量：

    • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们，感谢！
    ③ 本站资源均来源于互联网，仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
  • 在线纠错
    • 标准过期 下载问题 模糊有误 其它问题

    「相关推荐」