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GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法

GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法

Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor

GB/T 15653-1995

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标准GB/T 15653-1995标准状态

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  • 标准名称：金属氧化物半导体气敏元件测试方法
  • 标准号：GB/T 15653-1995
    中国标准分类号：L15
  • 发布日期：1995-07-24
    国际标准分类号：31.020
  • 实施日期：1996-04-01
    技术归口：工业和信息化部（电子）
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 标准分类：电子学电子元器件综合

内容简介

国家标准《金属氧化物半导体气敏元件测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了金属氧化物半导体气敏元件（以下简称元件）性能参数测试方法的基本原理，没有规定这些方法在实际使用时的技术细节，测试时可按相应的详细规范的规定进行。 本标准适用于金属氧化物半导体气敏元件性能参数的测试，其他气敏元件亦可参照使用。

起草单位

电子工业部标准化研究所、

起草人

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