YS/T 1164-2016 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法_标准下载

YS/T 1164-2016 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法

Test method for the content of impurities in high purity quartz used for silicon material.Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry method

YS/T 1164-2016

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标准YS/T 1164-2016标准状态

发布于：2016-07-11
实施于：2017-01-01
废止

标准详情

标准名称：硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法
标准号：YS/T 1164-2016
中国标准分类号：Q30
发布日期：2016-07-11
国际标准分类号：81.040
实施日期：2017-01-01
技术归口：全国有色金属标准化技术委员会(/)
代替标准：
主管部门：工业和信息化部
标准分类：玻璃和陶瓷工业

内容简介

本标准规定了多晶硅用高纯石英制品中铝、钙、钾、钠、铜、镁、磷、砷、锌、镍、硼含量的测定方法。本标准适用于多晶硅用高纯石英制品中铝、钙、钾、钠、铜、镁、磷、砷、锌、镍、硼含量的测定，测定范围见表1。

起草单位

亚洲硅业(青海)有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、新特能源股份有限公司

起草人

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