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GB/T 15757-2002 产品几何量技术规范(GPS) 表面缺陷 术语、定义及参数

GB/T 15757-2002 产品几何量技术规范(GPS) 表面缺陷 术语、定义及参数

Geometrical product specifications(GPS)--Surface imperfections--Terms,definitions and parameters

GB/T 15757-2002

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标准GB/T 15757-2002标准状态

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  • 标准名称:产品几何量技术规范(GPS) 表面缺陷 术语、定义及参数
  • 标准号:GB/T 15757-2002
    中国标准分类号:J04
  • 发布日期:2002-07-15
    国际标准分类号:17.040.20
  • 实施日期:2003-01-01
    技术归口:全国产品几何技术规范标准化技术委员会
  • 代替标准:代替GB/T 15757-1995
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:计量学和测量、物理现象长度和角度测量表面特征

内容简介

国家标准《产品几何量技术规范(GPS) 表面缺陷 术语、定义及参数》由TC240(全国产品几何技术规范标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了有关表面缺陷的术语,允许表面缺陷的程度及测量表面缺陷方法的技术规范等内容。 本标准适用于技术文件、技术图纸和科技出版物等。 本标准的定义不涉及表面粗糙度和表面波纹度。 本标准没有指出是否要进行表面缺陷的评定,这取决于具体的应用或表面的功能。 对于特殊的应用和制造工艺,在必要情况下可附加专用的术语和定义。这些术语和定义将在相关的标准中规定。 几种特殊表面缺陷将在其他标准中定义。

起草单位

中国机械科学研究院、时代集团公司、

起草人

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