GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量、泊松比测试方法_标准下载

GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量、泊松比测试方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Young's elastic modulus and Poisson ratio

GB/T 5594.2-1985

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标准GB/T 5594.2-1985标准状态

发布于：1985-11-27
实施于：1986-12-01
废止

标准详情

标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量、泊松比测试方法
标准号：GB/T 5594.2-1985
中国标准分类号：L32
发布日期：1985-11-27
国际标准分类号：
实施日期：1986-12-01
技术归口：工业和信息化部（电子）
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：

内容简介

本标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量和泊松比的测量。
国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量、泊松比测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

起草单位

天津大学、

起草人

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