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GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布)

GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布)

Life test and acceleration life test--Simple linear deflection-free--Evaluation ofWeibull distributions

GB/T 2689.3-1981

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  • 标准名称：寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布)
  • 标准号：GB/T 2689.3-1981
    中国标准分类号：L05
  • 发布日期：1981-06-22
    国际标准分类号：31.020
  • 实施日期：1981-10-01
    技术归口：工业和信息化部（电子）
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 标准分类：电子学电子元器件综合

内容简介

国家标准《寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法(用于威布尔分布)》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了用于恒定应力寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法的程序和方法。它适用于电子元器件产品（以下简称产品）的寿命服从威布尔分布，其形状参数m>0，特征寿命η>0，位置参数γ＝0，各组投试样品数为n>25的定数截尾的寿命试验和加速寿命试验的数据处理。

起草单位

电子部标准化所、

起草人

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