GB/T 22572-2008 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
GB/T 22572-2008
国家标准推荐性标准GB/T 22572-2008标准状态
- 发布于:2008-12-11
- 实施于:2009-10-01
- 废止
内容简介
国家标准《表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,TC38SC2(全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准详细说明了在SIMS深度剖析中,用多δ层参考物质评估前沿衰变长度、后沿衰变长度和高斯展宽三个深度分辨参数的步骤。由于样品表面的物理和化学态受一次入射离子影响而不稳定,本标准不适用于近表面区域的δ层。
起草单位
信息产业部专用材料质量监督检验中心、
起草人
马农农、 何友琴、 何秀坤、
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