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YS/T 644-2007 铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量

YS/T 644-2007 铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量

YS/T 644-2007

行业标准-YS 有色金属推荐性
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标准详情

  • 标准名称：铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量
  • 标准号：YS/T 644-2007
    中国标准分类号：H68
  • 发布日期：2007-04-13
    国际标准分类号：77.120
  • 实施日期：2007-10-01
    技术归口：全国有色金属标准化技术委员会
  • 代替标准：
    主管部门：国家发展和改革委员会
  • 标准分类：冶金有色金属其他有色金属及其合金YS 有色金属

内容简介

行业标准《铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量》由全国有色金属标准化技术委员会归口上报，主管部门为国家发展和改革委员会。本标准规定了铂钉（Pt-Ru）合金薄膜材料中合金态铂及合金态钌含量（质量分数）的测定方法。本标准适用于铂钌合金薄膜材料中合金态铂及合金态钌质量分数的测定，也可适用于各种铂合金薄膜材料中合金态铂质量分数及其他合金态金属质量分数的测定。测定范围：合金态铂质量分数不小于3%，合金态钌质量分数不小于3%。本标准不适用于单层厚度不大于10nm的层状薄膜。

起草单位

昆明金属研究所

起草人

杨滨、李旸

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