当前位置:标准网 行业标准

YD/T 2342-2011 通信用光电子器件可靠性试验方法

YD/T 2342-2011 通信用光电子器件可靠性试验方法

YD/T 2342-2011

行业标准-YD 通信推荐性
收藏报错

标准YD/T 2342-2011标准状态

  1. 发布于:
  2. 实施于:
  3. 废止

标准详情

内容简介

行业标准《通信用光电子器件可靠性试验方法》由中国通信标准化协会归口上报,主管部门为工业和信息化部。本标准规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的一般要求和详细要求,包括:试验目的、设备、条件、程序、检验及失效判据。本标准适用于通信用光电子器件,包括但不限于激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及由它们组成的组件或模块,简称“光电子器件”。其他领域的光电子器件也可参照使用。

起草单位

武汉邮电科学研究院、中兴通讯股份有限公司、深圳新飞通光电子技术有限公司

起草人

赵先明、杨电

相近标准

GB/T 33768-2017 通信用光电子器件可靠性试验方法
GB/T 21194-2007 通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求
20233683-T-339 半导体器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器
GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范 (可供认证用)
20162480-T-339 半导体器件 第5-5部分:光电子器件 光电耦合器
GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
20231204-T-339 半导体器件 第5-13部分:光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验
20201526-T-339 半导体器件 第5-7部分:光电子器件 光电二极管和光电晶体管
SJ/T 11378.7-2015 等离子体显示器件 第7部分:数字电视机用等离子体显示器件可靠性试验方法

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

  • 标准质量:
  • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
    ③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。