YD/T 2001.2-2011 用于光纤系统的半导体光电子器件第2部分：测试方法_标准下载

当前位置：标准网行业标准

YD/T 2001.2-2011 用于光纤系统的半导体光电子器件第2部分：测试方法

YD/T 2001.2-2011

行业标准-YD 通信推荐性

收藏报错

标准YD/T 2001.2-2011标准状态

发布于：2011-12-20
实施于：2012-02-01
废止

标准详情

标准名称：用于光纤系统的半导体光电子器件第2部分：测试方法
标准号：YD/T 2001.2-2011
中国标准分类号：L50
发布日期：2011-12-20
国际标准分类号：33.180
实施日期：2012-02-01
技术归口：中国通信标准化协会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部
标准分类：电信、音频和视频工程光纤通信光纤系统综合 YD 通信

内容简介

行业标准《用于光纤系统的半导体光电子器件第2部分：测试方法》由中国通信标准化协会归口上报，主管部门为工业和信息化部。本部分规定了用于光纤系统或子系统的半导体光电子器件的测试方法。本部分适用于半导体光电子器件。

起草单位

深圳新飞通光电子技术有限公司、武汉邮电科学研究院

起草人

梁泽、李小兵

相近标准

YD/T 2001.1-2009 用于光纤系统的半导体光电子器件第1部分：基本特性和额定值
SJ/T 11405-2009 光纤系统用半导体光电子器件第2部分：测量方法
20233683-T-339 半导体器件第5-4部分：光电子器件半导体激光器
GB/T 18904.2-2002 半导体器件第12-2部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范
20231205-T-339 半导体器件第5-11部分：光电子器件发光二极管辐射和非辐射电流的测试方法
20231209-T-339 半导体器件第5-10部分：光电子器件发光二极管基于室温参考的内部量子效率的测试方法
20231206-T-339 半导体器件第5-8部分：光电子器件发光二极管光电效率测试方法
20231204-T-339 半导体器件第5-13部分：光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验
20162480-T-339 半导体器件第5-5部分：光电子器件光电耦合器

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

标准网本地下载