SJ/T 2658.5-2015 半导体红外发射二极管测量方法第5部分：串联电阻_标准下载

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SJ/T 2658.5-2015 半导体红外发射二极管测量方法第5部分：串联电阻

SJ/T 2658.5-2015

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标准SJ/T 2658.5-2015标准状态

发布于：2015-10-10
实施于：2016-04-01
废止

标准详情

标准名称：半导体红外发射二极管测量方法第5部分：串联电阻
标准号：SJ/T 2658.5-2015
中国标准分类号：L53
发布日期：2015-10-10
国际标准分类号：31.080
实施日期：2016-04-01
技术归口：工业和信息化部电子工业标准化研究院
代替标准：代替SJ 2658.5-1986
主管部门：工业和信息化部
标准分类：电子学半导体分立器件 SJ 电子

内容简介

行业标准《半导体红外发射二极管测量方法第5部分：串联电阻》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报，主管部门为工业和信息化部。本部分规定了半导体红外发射二极管(以下简称器件)串联电阻的测量原理图、测量步骤以及规定条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。

起草单位

工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草人

张戈、赵英

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