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SJ/T 11577-2016 SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》应用指南

SJ/T 11577-2016 SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》应用指南

SJ/T 11577-2016

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标准详情

  • 标准名称：SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》应用指南
  • 标准号：SJ/T 11577-2016
    中国标准分类号：L53
  • 发布日期：2016-01-15
    国际标准分类号：31.260
  • 实施日期：2016-06-01
    技术归口：工业和信息化部电子工业标准化研究院
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部
  • 标准分类：电子学光电子学、激光设备SJ 电子

内容简介

行业标准《SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》应用指南》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报，主管部门为工业和信息化部。本标准规定了SJ/T11394—2009《半导体发光二极管测试方法》在实际测量过程中的技术细节。

起草单位

广州赛西光电标准检测研究院有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草人

周钢、牟同升、赵英

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