当前位置:标准网 行业标准

YS/T 24-2016 外延钉缺陷的检验方法

YS/T 24-2016 外延钉缺陷的检验方法

YS/T 24-2016

行业标准-YS 有色金属推荐性
收藏报错

标准YS/T 24-2016标准状态

  1. 发布于:
  2. 实施于:
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称:外延钉缺陷的检验方法
  • 标准号:YS/T 24-2016
    中国标准分类号:H21
  • 发布日期:2016-04-05
    国际标准分类号:77.040
  • 实施日期:2016-09-01
    技术归口:全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)
  • 代替标准:代替YS/T 24-1992
    主管部门:工业和信息化部
  • 标准分类:冶金金属材料试验制造业YS 有色金属

内容简介

行业标准《外延钉缺陷的检验方法》,主管部门为工业和信息化部。本标准规定了外延钉缺陷的检验方法。本标准适用于判断硅外延片上是否存在高度不小于4μm的钉缺陷。如果钉缺陷数量比较少且彼此不相连,可对钉缺陷进行计数。本标准不能测量钉缺陷的高度。

起草单位

南京国盛电子有限公司、有研半导体材料有限公司、上海晶盟硅材料有限公司

起草人

马林宝、杨帆、孙燕、徐新华

相近标准

YS/T 24-1992 外延钉缺陷的检验方法
GB/T 42902-2023 碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法
GB/T 43493.1-2023 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分:缺陷分类
JB/T 6061-1992 焊缝磁粉检验方法和缺陷磁痕的分级
JB/T 6062-1992 焊缝渗透检验方法和缺陷迹痕的分级
GB/T 43493.2-2023 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分:缺陷的光学检测方法
GB/T 43493.3-2023 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分:缺陷的光致发光检测方法
20232762-T-306 实验动物 猴免疫缺陷病毒检验方法
GB/T 4058-2009 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

  • 标准质量:
  • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
    ③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。