SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法_标准下载

当前位置：标准网行业标准

SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法

SJ/T 11765-2020

行业标准-SJ 电子推荐性

收藏报错

标准SJ/T 11765-2020标准状态

发布于：2020-12-09
实施于：2021-04-01
废止

标准详情

标准名称：晶体管低频噪声参数测试方法
标准号：SJ/T 11765-2020
中国标准分类号：L42
发布日期：2020-12-09
国际标准分类号：31.080
实施日期：2021-04-01
技术归口：基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
代替标准：
主管部门：工业和信息化部
标准分类：电子学半导体分立器件三极管 SJ 电子

内容简介

行业标准《晶体管低频噪声参数测试方法》由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组归口上报，主管部门为工业和信息化部。本标准规定了晶体管1Hz~300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求。本标准适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行。

起草单位

起草人

罗宏伟、胡为、王小强

相近标准

SJ/T 11768-2020 电阻器低频噪声参数测试方法
SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法
SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法
SJ/T 11769-2020 电子元器件低频噪声参数测试方法通用要求
SJ/T 10439-1993 双极型晶体管直流参数测试仪测试方法
SJ/T 10052-1991 3CD507型硅PNP低频放大管壳额定的双极型晶体管
SJ/T 10053-1991 3DD313型硅NPN低频放大管壳额定的双极型晶体管
GB/T 7577-1996 低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范
GB/T 6217-1998 半导体器件分立器件第7部分:双极型晶体管第一篇高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

标准网本地下载

标准质量：

下载说明

① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们，感谢！
③ 本站资源均来源于互联网，仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。

在线纠错

标准过期下载问题模糊有误其它问题