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JB/T 8270-1995 静电复印光导体膜层厚度测量方法

JB/T 8270-1995 静电复印光导体膜层厚度测量方法

JB/T 8270-1995

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标准JB/T 8270-1995标准状态

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标准详情

  • 标准名称：静电复印光导体膜层厚度测量方法
  • 标准号：JB/T 8270-1995
    中国标准分类号：N40
  • 发布日期：1989-03-31
    国际标准分类号：37.100
  • 实施日期：1990-01-01
    技术归口：
  • 代替标准：被JB/T 8270-1999代替
    主管部门：机械工业部
  • 标准分类：机械成像技术JB 机械

内容简介

行业标准《静电复印光导体膜层厚度 测量方法》，主管部门为机械工业部。本标准规定了用涡流测厚仪无损测量非磁性金属基体的静电复印光导体膜层厚度的原理、仪器、仪器校准、操作程序、精度要求、数据处理以及测量结果和报告。本标准适用于光导鼓和光导版膜层厚度的测量。本标准不适用于测量多层结构光导体中任一单层的厚度。

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