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HB 6742-1993 单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法

HB 6742-1993 单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法

HB 6742-1993

行业标准-HB 航空强制性
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标准HB 6742-1993标准状态

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标准详情

  • 标准名称：单晶叶片晶体取向的测定X射线背射劳厄照相法
  • 标准号：HB 6742-1993
    中国标准分类号：V04
  • 发布日期：1993-11-05
    国际标准分类号：31.140
  • 实施日期：1994-03-01
    技术归口：
  • 代替标准：
    主管部门：
  • 标准分类：电子学HB 航空

内容简介

本标准规定了采用Ｘ射线背射劳厄照相法检测金属晶体取向的方法原理、仪器设备、角度测量、衍射花样分析及取向标定的一般要求。　　本标准适用于铸造镍基高温合金定向凝固的单晶和柱状晶叶片及试件晶体取向的检测。例如，适用于ＤＤ系列单晶及ＤＺ系列柱状晶，也适用于大于１ｍｍ直径晶粒的取向测定。　　其它金属晶体的取向测定也可参照使用。

起草单位

中国航空工业总公司六二一研究所、三三一厂、四一○厂

起草人

标准主要起张国焕、龚慧锋、张银东、任启运

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