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QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法

QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法

QJ 2689-1994

行业标准-QJ 航天强制性
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标准QJ 2689-1994标准状态

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  2. 实施于：
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称：电子元器件中多余物的X射线照相检验方法
  • 标准号：QJ 2689-1994
    中国标准分类号：V04
  • 发布日期：1994-06-24
    国际标准分类号：17.240
  • 实施日期：1994-12-01
    技术归口：
  • 代替标准：
    主管部门：
  • 标准分类：计量学和测量、物理现象QJ 航天

内容简介

起草单位

中国航天工业总公司五院、二院六九九厂

起草人

标准主要起夏泓、戴俊、刘世才、孙耀康

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