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SJ/T 10867-1996 盘封管电性能测试方法谐振腔无载品质因数Q的测试方法

SJ/T 10867-1996 盘封管电性能测试方法谐振腔无载品质因数Q的测试方法

SJ/T 10867-1996

行业标准-SJ 电子推荐性

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标准SJ/T 10867-1996标准状态

发布于：1996-11-20
实施于：1997-01-01
废止

标准详情

标准名称：盘封管电性能测试方法谐振腔无载品质因数Q的测试方法
标准号：SJ/T 10867-1996
中国标准分类号：L35
发布日期：1996-11-20
国际标准分类号：31.100
实施日期：1997-01-01
技术归口：
代替标准：代替GB 7273.4-1987
主管部门：
标准分类：电子学 SJ 电子

内容简介

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起草人

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